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[HvdN+06] | Martijn Hendriks,
Barend van den Nieuwelaar et
Frits Vaandrager.
Model checker aided design of a controller for a
wafer scanner.
International Journal on Software Tools for
Technology Transfer 8(6):633-647. Springer-Verlag, novembre 2006.
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1 correspondance trouvéeListe des auteurs
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